半导体器件高低温测试设备

应用于元器件的特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验

此类设备解决传统高低温箱无法满足的局部测试要求,设备移动方便、适合对众多元器件的某个单个元器件或具有平坦表面且结构扁平器件的高低温测试

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